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주요특징
주요특징
검사 장비
교체 및 변경없이
설치 가능
실시간/오프라인
자동검사 가능
BGA, QFN, LED 등
다양한 전자 부품
불량 검출 가능
검사결과 확인
및 공유 가능한
리뷰 기능 제공
CT 데이터와
연계하여 검사 가능
검사항목
검사대상
BGA / Wafer
Land Grid Array
QFN / QFP / Pad
Wire / Chip
LED
제품군
제품군
시스템요구사양
시스템 요구사양
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