제품 소개

투과영상 기반 전자부품 검사 소프트웨어

​X-SOL


X-SOL 제품은 전자부품 내부의 실시간 자동 검사와

검수 목적의 결과 분석이 가능한
X-ray 투과영상 기반 검사 소프트웨어 플랫폼입니다. 

 

주요특징

검사 장비
교체 및 변경없이

​설치 가능

실시간/오프라인​

​자동검사 가능

BGA, QFN, LED 등

다양한 전자 부품

불량 검출 가능

검사결과 확인

및 공유 가능한

리뷰 기능 제공

CT 데이터와​

​연계하여 검사 가능

 

검사대상

​BGA / CSP / Wafer

​Land Grid Array

​QFN / QFP / Pad

Chip / Other PCBAs 

LED

 

제품군

 

시스템요구사양

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